通过体视3D旋转观察器可避免将显微镜或被测物体倾斜观察带来的不便，无需复杂调整就能轻松地观察被测物体的三维形貌。

PA80MET大平台显微镜采用无限远色差较正CCIS光学系统，像质较好，功能齐全，使用方便，适合在偏光下对各种矿物及其试样薄片的鉴定及研究。

APO物镜 探针台显微镜全新的一体化设计，具有优异的光学成像质量，方便使用的正像光学系统，是理想的检测半导体器件的工具，支持3种激光波长，可在半导体和液晶基板中使用激光切割和薄膜技术。可以广泛应用于半导体、电子、冶金等行业的制造和研究领域。

PSM-1000探针台显微镜具有优异的光学成像质量，方便使用的正像光学系统，是理想的检测半导体器件的工具，支持3种激光波长，可在半导体和液晶基板中使用激光切割和薄膜技术。可以广泛应用于半导体、电子、冶金等行业的制造和研究领域。

AE2000Met 金相显微镜集合明、暗场、偏光等观察方法，满足用户对晶粒度，球化率等多种专业金相分析需求，广泛适用于金属、矿物等多种领域。

BA310Met-H金相显微镜是电子、金属材料、矿物、地质、精密工程等检 查、分析及研究的仪器，适用于教学、科 研、工业等领域。

BA310Met-T金相显微镜是电子、金属材料、矿物、地质、精密工程等检 查、分析及研究的仪器，适用于教学、科 研、工业等领域。

BA310Met金相显微镜是电子、金属材料、矿物、地质、精密工程等检 查、分析及研究的仪器，适用于教学、科 研、工业等领域。